磁共振可检测中风

    新的研究显示，一种广泛运用的成像技术可识别颈动脉中潜在的危险脂斑。尽管这只是一个初步结论，但它最终可用于发现有中风高危倾向的人。

    当覆盖在脂斑上的纤维帽变薄或破裂时，中风和小中风，或称短暂性脑缺血发作(TIAs)的危险增加。研究表明：高分辨率的磁共振成像技术(MRI)能发现变薄或破裂的纤维帽。基于这一点，美国华盛顿大学的袁春(音译)及其同事着手研究了那些近期发作过中风或TIA的病人MRI所示的纤维帽是否变薄或破裂。

    研究人员对53位拟行颈动脉内膜切除术的病人进行了MRI，他们的动脉内壁已阻塞到需手术治疗。其中28位在近90天内曾发生过中风或TIA。发表在最近出版的美国心脏协会杂志《循环学》上的这份研究报告称，那些纤维帽变薄或破裂的病人发作过中风或小中风的更多，纤维帽破裂的病人有中风或小中风史的可达70%，纤维帽变薄有这类病史的也有50%。相反，纤维帽厚者中只有9%近期发作过中风或小中风。对于纤维帽破裂者和较厚者，大脑因为血供量减少而产生神经症状的几率，前者比后者大23倍。

    研究人员说，MRI将来在治疗颈动脉性疾病时可起到一定作用，它能帮助医生们为动脉粥样硬化症的病人决定最好的治疗方法。这一成像技术在病人没表现出症状前，还可通过发现颈动脉中“潜在的不稳定脂斑”而导致实现对中风的早期预防。